Clemex PS Filter清潔度分析系統是用在質量控制實驗室里測量薄膜過濾器上收集的微粒，以檢查污染，或檢查潔凈室的空氣質量。
-在制造業，醫藥等行業的顆粒污染測量是極為重要的。 Clemex PSFilter是專門設計用來分析在不同區域的污染，測量在薄膜過濾器，硅片等上面的顆粒。

Clemex PS Filter清潔度分析系統

憑借其方便的下拉菜單，允許您選擇預編程的標準， 如ISO 4407，ISO 4406，ISO 16232，IEST STD CC 1246D，或USP788。 Clemex PSFilter也可提供自定義的應用標準。 

-USP 788標準用來測量粒徑和計數。這標準是由標準化組織（ISO）出版的，涉及到液壓油固體顆粒污染。
-ISO 4406標準定義用于污染編碼的方法，并必須將樣品根據ISO 4407進行分析。
-ISO 16232，該標準涉及到道路車輛流體元件的清潔度。 標準定義了所使用的術語， 規定了不同提取污染物的方法，有幾種方法確定污染物的規模和性質。
-IEST STD，CC1246D是環境科學技術研究所（IEST）出版的一個標準，涉及到產品的清潔度等級和污染控制。標準定義清潔度測定中使用的術語和設置潔凈度水平的上限。

上海玖橫儀器有限公司是一家專業從事儀器儀表研發、生產、銷售及服務的企業。超聲波探傷儀：（EPOCH 600超聲探傷儀、EPOCH 6LT超聲探傷儀、EPOCH 650超聲探傷儀、EPOCH 1000超聲探傷儀、USM 36超聲探傷儀、USN 60超聲探傷儀、USM go+超聲探傷儀、Ominscan SX相控陣探傷儀、OmniScan MX2相控陣TOFD探傷儀，新款OmniScan MX3全聚焦相控陣超聲波探傷儀）；超聲波測厚儀：（27MG超聲波測厚儀、45MG超聲波測厚儀、38DL PLUS超聲波測厚儀、DM5E超聲波測厚儀、CL5超聲波測厚儀、MAGNA-MIKE 8600霍爾效應測厚儀，ETG-100電磁高溫測厚儀）；超聲波探頭；定制相控陣探頭；渦流探傷儀：（NORTEC 600渦流探傷儀）；硬度計；DR平板探測器：1313DX ，1515DXT-I ，2520DX ，2530HE，4343HE， Dexela 1207 ，Dexela 1313 ，Dexela 2121S ，Dexela CMOS平板探測器 ，XRD 0822 ，XRD 1611 ，XRD 1621 ，XRD 4343RF ，XRD 3025 ，XRpad 4336 ，XRpad 4343 F ，XRpad2 3025 ，XRpad2 4336。內窺鏡：（IPLEX NX奧林巴斯內窺鏡、IPLEX GX/GT奧林巴斯內窺鏡、IPLEX G Lite奧林巴斯內窺鏡、IPLEX TX奧林巴斯內窺鏡、IPLEX YS奧林巴斯內窺鏡、XLGo+工業視頻內窺鏡GE、XL Detect+工業視頻內窺鏡GE新款、UVin專業紫外視頻內窺鏡、）；脈沖發生器：（DRP300替代奧林巴斯的5072PR,5073PR）；合金分析儀：(Vanta奧林巴斯手持式合金分析儀、DELTA Professional手持式合金分析儀奧林巴斯、DELTA Element手持式合金分析儀奧林巴斯)等儀器儀表